一。带程序的芯片

1.一般情况下，EPROM芯片不应该被损坏。因為(wèi)这种芯片需要紫外光来擦除程序，所以在测试中(zhōng)不会损坏程序。但有(yǒu)资料显示，由于制作(zuò)芯片的材料原因，即使不使用(yòng)也有(yǒu)可(kě)能(néng)损坏(主要指程序)。所以要尽量备份。

2.EEPROM、SPROM等。而且带電(diàn)池的RAM芯片很(hěn)容易破坏程序。这类芯片在使用(yòng)中(zhōng)的VI曲線(xiàn)扫描后是否会破坏程序还没有(yǒu)定论。尽管如此，同事遇到这种情况还是要小(xiǎo)心。筆(bǐ)者做过多(duō)次实验，可(kě)能(néng)的原因是维修工(gōng)具(jù)(如测试仪、烙铁等)的外壳漏電(diàn)。)造成的。

3.对于電(diàn)路板上带電(diàn)池的芯片，不要轻易从板上取下。

二。重接電(diàn)路

1.当電(diàn)路板上有(yǒu)大规模集成電(diàn)路需要修复时，要注意复位问题。2.测试前，＊好把它放回设备上，反复开机关机，试着按几次复位键。3.功能(néng)和参数测试。1.器件的检测只能(néng)反映截止區(qū)、放大區(qū)、饱和區(qū)，无法测量工(gōng)作(zuò)频率、速度等具(jù)體(tǐ)数值。

2.同样，对于TTL数字芯片，我们只能(néng)知道有(yǒu)高低電(diàn)平输出变化，却无法找出其上升沿和下降沿的速度。4.晶體(tǐ)振荡器1。通常只能(néng)用(yòng)示波器(晶振需要上電(diàn))或者频率计来测试，否则只能(néng)用(yòng)替代法。2.晶體(tǐ)振荡器的常见故障有(yǒu):a .内部漏電(diàn)b .内部开路c .频偏恶化d。

3.整板测试时可(kě)以用(yòng)两种判断方法:a .测试时晶振周围相关芯片失效。b .除晶體(tǐ)振荡器外，未发现其他(tā)故障点。4.晶體(tǐ)振荡器有(yǒu)两种:a .两条腿。b .四条腿，其中(zhōng)第二条腿通電(diàn)，注意不要随意短路。

三。故障现象的分(fēn)布

1.電(diàn)路板故障部位不完全统计:1) 30%的芯片损坏；2) 30%的分(fēn)立元件损坏；3) 30%的导線(xiàn)(PCB上的铜線(xiàn))断了；4) 10%的程序损坏或丢失(有(yǒu)上升趋势)；2.从上面可(kě)以看出，当要维修的電(diàn)路板出现导線(xiàn)和程序问题时，没有(yǒu)好的板，对其导線(xiàn)既不熟悉，也找不到。